AI/ML 기반 예측 분석으로 제조 수율을 혁신하다

대량 반도체 제조에서 가동 중단은 단순한 기술적 문제가 아니라 막대한 수익 손실로 이어집니다. 당사의 스마트 FDC(결함 감지 및 분류) 프레임워크는 고급 AI/ML 알고리즘을 사용하여 센서의 원시 데이터를 실행 가능한 인사이트로 변환함으로써 수율에 영향을 미치기 전에 공정 편차를 예측할 수 있도록 지원합니다.

• 사후 대응이 아닌 예측: 웨이퍼 손실이 발생하기 전에 기계 고장을 방지하십시오.
• 오경보 대폭 감소: 노이즈를 65% 줄여 팀이 실제 문제에 집중할 수 있도록 지원합니다.
• 즉각적인 진단: 더 이상 수동으로 데이터를 검색할 필요 없이 실시간으로 근본 원인을 파악하세요.
• 생산량 증대: 폐기물 발생량 30% 감소로 배치당 수익성이 향상됩니다.